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招標(biāo)項(xiàng)目編號(hào)：0862-254HNZJC0005
項(xiàng)目名稱：半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)設(shè)備
項(xiàng)目名稱（英文）：Semiconductor defect detection equipment
招標(biāo)機(jī)構(gòu)：中技建設(shè)咨詢
招標(biāo)方式：公開(kāi)招標(biāo)
招標(biāo)結(jié)果：重新招標(biāo)
未在中國(guó)電力招標(biāo)采購(gòu)網(wǎng)（m.cccibqz.cn）上注冊(cè)會(huì)員的單位應(yīng)先點(diǎn)擊注冊(cè)。登錄成功后的在 招標(biāo)會(huì)員 區(qū)根據(jù)招標(biāo)公告的相應(yīng)說(shuō)明獲取招標(biāo)文件！
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